Mô tả chung
Góp phần cải thiện năng suất cho các thiết bị SoC cao cấp bằng thử nghiệm tại nhiệt cao của die.
Công nghệ Chiplet cho các thiết bị
HA1200 mới có thể được kết nối với một máy kiểm tra để sử dụng công nghệ kiểm soát nhiệt chủ động độc đáo để kiểm tra các die đơn lẻ và/hoặc đã lắp ráp một phần. Công nghệ này cho phép kiểm tra các SoC cao cấp với phạm vi kiểm tra 100%. Sẽ giúp giảm phế phẩm.
Đặc điểm nổi bật
Kiểm tra chất lượng của Die
Cho phép kiểm tra toàn bộ thiết bị trước khi lắp ráp. Giúp loại bỏ các die hỏng.
ATC (Kiểm soát nhiệt độ chủ động)
Công nghệ này tăng tính linh hoạt trong các loại kiểm tra và tăng năng suất trong quá trình thử nghiệm cuối cùng của các thiết bị chiplet.